X光譜檢測電鍍層厚度儀器設備機 檢測膜厚儀器 分析膜厚儀器 測試膜厚儀器 化驗膜厚儀器 測試膜厚儀器 測量膜厚儀器設備機

檢測膜厚機器設備 

專業的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優化迭代開發出EFP核心算法，結合先進的光路轉換技術、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層應用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應用：如NiP/Fe，通過EFP算法，在計算鎳磷鍍層厚度的同時，還可分析出鎳磷含量比例。

重復鍍層應用：不同層有相同元素，也可測量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。

儀器的四大理由：

1.一機多用，無損檢測

2.**小測量面積0.002mm?

3.可檢測凹槽0-90mm的異形件

4.輕元素，重復鍍層，同種元素不同層亦可檢測

配置清單：

檢測膜厚機器設備